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长工作距离 | 复消色差物镜

面向需要长工作距离、充裕原位操作空间及高精度细节表征的用户，我们推荐 Mitutoyo 长工作距离复消色差物镜系列，在工作距离与成像性能之间实现优异平衡。

核心优势

长工作距离 + 高性能兼顾：基于 95 mm 齐焦距设计，在保证充足操作空间的同时，实现高 NA 与高对比度成像
复消色差光学设计：对红、蓝、黄三色进行色差校正，相比普通消色差物镜，具备更优的色彩还原与细节解析能力
平均优化成像：全视场范围内保持一致清晰度，适用于高精度检测与测量应用
明场应用优化：针对入射照明（同轴照明）优化设计，成像稳定，是明场检测的理想选择
高一致性与成熟工艺：依托成熟量产体系，在保证性能一致性的同时具备良好成本控制优势
系统集成兼容性强：推荐搭配我们的显微镜筒或连续变倍系统，构建无限远校正光路

常用模块规格表

物镜系列及倍数	NA	工作距离/mm	解析度μm
LWD 5x	0.14	36.5	2
LWD 10x	0.28	34	1
LWD 20x	0.42	20	0.7
LWD 50x	0.55	13	0.5

*更多倍率/波段参数、3D模型、成像案例请联系技术支持

集成参考案例

4K系列 | 高通量大靶面显微镜筒

集成Mitutoyo 10x、20x APO物镜

60系列 | 集成型显微镜筒

集成光谱自动聚焦、科勒照明、Mitutoyo 20x APO物镜

PE系列 | 小型化宽光谱显微镜筒

集成Mitutoyo APO NIR物镜、5颗物镜电动切换

HR高分辨率 | 复消色差物镜

面向大视场与高精度检测需求，尤其适用于既要看得广、又要看得清的应用场景。例如：半导体与FPD大面积AOI检测、先进封装与晶圆级缺陷分析、微流控与生物芯片高通量成像、培养皿/微孔板多目标检测。

核心优势

高NA设计：分辨率显著提升采用大通光口径与高数值孔径设计，分辨能力显著优于同倍率常规物镜例：10× NA 0.4 ≈ 常规 20× 分辨能力，在更大视野下完成高精度检测
宽视场+高解析组合：相比同 NA 物镜，视场提升 67%–150%；在相同视野下，解析度提升约 30%，显著提高检测效率
复合色差矫正设计：在 436–656 nm 波段实现优异球差与色差校正，兼顾图像清晰度、均匀性与真实色彩还原
丰富倍率与工作距离：提供 1× / 2× / 4× / 6× / 10× / 20× 规格，工作距离 10–39 mm，适配多种应用场景
系统集成友好：95 mm 齐焦设计，支持物镜转盘切换；前端锥形结构，提供更大操作与安装空间
大视场系统适配能力：搭配匹配筒镜与相机，可实现高分辨率宽场成像；结合 4K 系列｜高通量大靶面显微镜筒
面向高通量检测应用：适用于半导体与 FPD AOI 检测、工业自动化、微流控、生物芯片、细胞高通量成像及三维测量等场景

常用模块规格表

物镜系列及倍数	NA	工作距离/mm	解析度μm
HR 4x	0.2	20	3.45
HR 6x	0.29	25	1.25
HR 10x	0.37	10.29	0.97
HR 20x	0.53	10	0.68

宽视场多解析度方案

HR系列物镜搭配4K系列显微镜筒，实现"高解析度 + 大视场"的高通量成像方案，相比传统组合具有显著效率优势。

6.6X 宽视场显微方案

系统配置：1.1×镜筒 × 6×/NA0.3HR物镜 × 1"相机

系统放大倍率：6.6×

有效视野：2.42mm

系统解析能力：≈ 1.1 μm

集成优势：大靶面设计，极致发挥高分辨率宽视场物镜优势，对比传统 1× + 10× NA0.28 方案：解析能力逼近 10×（≈1.1 μm），视野提升约 50%

16X 宽视场高解析度显微方案

系统配置：1.6×镜筒 × 10×/NA0.4HR物镜 × 32mm相机

系统放大倍率：16×

有效视野：2mm

系统解析能力：≈ 0.8μm

集成优势：大靶面设计，极致发挥高分辨率宽视场物镜、科勒照明优势，实现在32mm感光面积下无暗角、无像质劣化，确保2mm视野内每一颗像素都能精准还原0.8um的物理细节。

宽视场多解析度方案

系统配置：1.1×镜筒 × 电动物镜切换（4xHR、6xHR、10xHR）× 1"相机

检测组合：视野 3.64mm / 解析率 1.7μm
视野 2.42mm / 解析率 1.1μm
视野 1.45mm / 解析率 0.8μm

高通量 | 长工作距离镜头附件

面向大靶面、高通量显微成像需求，我们推出宽视场长工作距离附件系列，专为4K高通量显微镜筒及连续变倍系统优化设计，进一步拓展系统的成像能力与应用范围。

核心优势

大靶面系统匹配：专为 4K 系列显微镜筒与高分辨连续变倍镜头设计，充分发挥大尺寸传感器成像优势
宽视场 + 高通量成像：在保证分辨率的同时扩大视野范围，提升整体检测效率
长工作距离设计：提供更充裕的操作与集成空间，适用于复杂系统与原位观测场景
复消色差光学性能：有效校正多波段色差，保证高质量成像表现
多波段兼容能力：支持可见光至短波红外（SWIR）镀膜，满足多光谱检测需求

常用模块规格表

宽视场镜头附件	NA	工作距离/mm	解析度μm
WF 0.25x	0.025	359.5	13.42
WF 0.5x	0.05	173	6.71
WF 0.75x	0.075	110	4.47
WF 1x	0.1	90	3.36
WF 1.25x	0.125	72	2.68
WF 1.5x	0.15	46.5	2.24
WF 2x	0.2	32.3	1.68

集成组合参考

4K系列 | 高通量大靶面显微组合

光学放大倍率范围：1.92×~13.5×
工作距离45.5mm
光学解析度6.81~2.35μm

4K系列 | 高通量大靶面双视显微组合

宽视场变倍+高解析定倍
解析度组合：5.11~1.68μm

45mm齐焦 | 明场平场半复消色差物镜

面向同轴明场检测与高对比度成像需求，我们推荐 PlanFluor EPI 明视场物镜系列，在工业检测中提供稳定、清晰的成像表现。

核心优势

明场同轴照明优化：专为同轴（EPI）照明设计，适用于反射式明场观察，提升表面细节呈现能力
平场半复消色差设计：在保证视场平整性的同时优化色差校正，实现清晰、均匀的成像效果
高对比度成像：有效提升图像对比度，适用于缺陷检测与边缘识别等应用
统一光学接口设计：无限远共轭光路，45 mm 齐焦距离，便于系统集成与物镜切换
宽倍率覆盖：提供 5×–100× 多种倍率选择，满足不同尺度的检测需求
DIC应用兼容：入瞳位置统一，便于接入 DIC（微分干涉）等成像方式扩展

常用模块规格表

物镜系列及倍数	NA	工作距离/mm	解析度μm
PlanFluor EPI 5x	0.15	23.5	1.83
PlanFluor EPI 10x	0.3	17	0.92
PlanFluor EPI 20x	0.45	4.5	0.61
PlanFluor EPI 50x	0.8	1	0.34

*更多倍率/波段参数请联系技术支持